Сотрудник НИИ ФиПИ принял участие в международной конференции молодых исследователей России по электротехнике и электронике IEEE (ElConRus-2019)

С 28 по 30 января 2019 года на базе Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина) состоялась международная конференция молодых исследователей России по электротехнике и электронике IEEE (2019 IEEE Conference of Russian Young Researchers in Electrical and Electronic Engineering).

Конференция организована при поддержке Северо-западной секции института инженеров электротехники и электроники IEEE в России, Национального исследовательского университета «МИЭТ» и университета Рексем Глиндур (Glyndwr University, UK).

Целью конференции являлось объединить молодых ученых, исследователей, практиков и инженеров до 35 лет из разных областей науки на двенадцати тематических секционных площадках:

1. Communication. Networking & Broadcasting.

2. Components, Circuits, Devices & Systems.

3. Computing & Processing (Hardware/Software). Information Security.

4. Electrical Engineering, Automation & Control Systems.

5. Micro and Nanoelectronics.

6. Engineering Materials, Dielectrics & Plasmas.

7. Fields, Waves & Electromagnetics.

8. Photonics & Electro-Optics.

9. Power, Energy & Industry Applications.

10. Signal Processing & Analysis.

11. Biomedical and Environmental Engineering.

12. Industrial Management, Management of Innovations.

Пензенский государственный университет на конференции представлял к.т.н., директор студенческого научно-производственного бизнес-инкубатора НИИ ФиПИ Алимурадов Алан Казанферович.

В рамках рабочей программы конференции Алимурадов А.К. представил доклад «Formant analysis of speech signals based on empirical mode decomposition to detect human psycho-emotional disorder» на английском языке в секции «Signal Processing & Analysis». Доклад подготовлен по результатам научной работы, финансируемой Советом по грантам Президента РФ, № СП-246.2018.5.

По завершению работы конференции все доклады будут включены в коллекцию электронной библиотеки IEEE Xplore, а также проиндексированы в международной наукометрической базе Scopus.